The Formation of Silicon Carbide in the SiCx Layers (x = 0.03–1.4) Formed by Multiple Implantation of C Ions in Si

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Auteurs principaux: Nussupov, Kair Kh., Beisenkhanov, Nurzhan B.
Format: Électronique Chapitre de livre
Langue:anglais
Publié: IntechOpen 2011
Sujets:
Accès en ligne:https://www.intechopen.com/chapters/21140
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