Nano-Scale Measurements of Dopants and Electronic Impurities in Individual Silicon Nanowires Using Kelvin Probe Force Microscopy
None
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , , , , |
|---|---|
| Формат: | Электронный ресурс Глава книги |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
IntechOpen
2011
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://www.intechopen.com/chapters/16377 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|