Characterization and Modeling of Charging Effects in Dielectrics for the Actuation of RF MEMS Ohmic Series and Capacitive Shunt Switches
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| Hauptverfasser: | , , , , , , , |
|---|---|
| Format: | Elektronisch Buchkapitel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
IntechOpen
2012
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://www.intechopen.com/chapters/33596 |
| Tags: |
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