Characterization and Modeling of Charging Effects in Dielectrics for the Actuation of RF MEMS Ohmic Series and Capacitive Shunt Switches

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Marcelli, Romolo, Lucibello, Andrea, Angelis, Giorgio De, Proietti, Emanuela, Papaioannou, George, Bartolucci, Giancarlo, Giacomozzi, Flavio, Margesin, Benno
Formato:	Electrónico Capítulo de libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	IntechOpen 2012
Materias:	Physical Sciences, Engineering and Technology
Acceso en línea:	https://www.intechopen.com/chapters/33596
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