Influence of Ionizing Radiation and Hot Carrier Injection on Metal-Oxide-Semiconductor Transistors
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|---|---|
| Format: | Électronique Chapitre de livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
IntechOpen
2012
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| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://www.intechopen.com/chapters/32116 |
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| Résumé: | None |
|---|---|
| ISBN: | 978-953-51-0196-3 |
| DOI: | 10.5772/39263 |