Application of Orientation Mapping in TEM and SEM for Study of Microstructural Evolution During Annealing – Example: Aluminum Alloy with Bimodal Particle Distribution

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Sztwiertnia, K., Bieda, M., Kornewa, A.
Natura: Elettronico Capitolo di libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: IntechOpen 2012
Soggetti:
Accesso online:https://www.intechopen.com/chapters/30899
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