Application of Orientation Mapping in TEM and SEM for Study of Microstructural Evolution During Annealing – Example: Aluminum Alloy with Bimodal Particle Distribution

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Auteurs principaux: Sztwiertnia, K., Bieda, M., Kornewa, A.
Format: Électronique Chapitre de livre
Langue:anglais
Publié: IntechOpen 2012
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Accès en ligne:https://www.intechopen.com/chapters/30899
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