Spectral Clustering and Its Application in Machine Failure Prognosis

None

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Main Authors: Li, Weihua, Chen, Yan, Liu, Wen, Lee, Jay
Format: Electronisk Book Chapter
Sprog:engelsk
Udgivet: IntechOpen 2012
Fag:
Online adgang:https://www.intechopen.com/chapters/29867
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!