Spectral Clustering and Its Application in Machine Failure Prognosis

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Li, Weihua, Chen, Yan, Liu, Wen, Lee, Jay
Natura: Elettronico Capitolo di libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: IntechOpen 2012
Soggetti:
Accesso online:https://www.intechopen.com/chapters/29867
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