Nano-Scale Measurements of Dopants and Electronic Impurities in Individual Silicon Nanowires Using Kelvin Probe Force Microscopy
None
Salvato in:
| Autori principali: | , , , , , , |
|---|---|
| Natura: | Elettronico Capitolo di libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
IntechOpen
2011
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://www.intechopen.com/chapters/16377 |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|