In-Situ Analysis of Optoelectronic Properties of Semiconductor Nanostructures and Defects in Transmission Electron Microscopes
None
Guardado en:
| Autores principales: | , , |
|---|---|
| Formato: | Electrónico Capítulo de libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
IntechOpen
2011
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://www.intechopen.com/chapters/15247 |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|