Structural and Electron Transport Properties of Ultrathin SiO2 Films with Embedded Metal Nanoclusters Grown on Si
None
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
IntechOpen
2011
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://www.intechopen.com/chapters/14384 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|