Detection and Characterization of Nano-Defects Located on Micro-Structured Substrates by Means of Light Scattering
None
Sparad:
| Huvudupphovsmän: | , , , , |
|---|---|
| Materialtyp: | Elektronisk Bokavsnitt |
| Språk: | engelska |
| Publicerad: |
IntechOpen
2011
|
| Ämnen: | |
| Länkar: | https://www.intechopen.com/chapters/14161 |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|