Lifetime Yield Optimization of Analog Circuits Considering Process Variations and Parameter Degradations
None
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | Pan, Xin, Graeb, Helmut |
|---|---|
| Định dạng: | Điện tử Chương của sách |
| Ngôn ngữ: | Tiếng Anh |
| Được phát hành: |
IntechOpen
2011
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.intechopen.com/chapters/13832 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
An SQP and Branch-and-Bound Based Approach for Discrete Sizing of Analog Circuits
Bằng: Pehl, Michael, et al.
Được phát hành: (2011) -
Analog MOS integrated circuits for signal processing /
Bằng: Gregorian, Roubik
Được phát hành: (1986) -
Analog integrated circuits /
Bằng: Soclof, Sidney
Được phát hành: (1985) - Analog Electronics and Circuits
- Analog Electronics and Circuits


