Memory and LSI.

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Dettagli Bibliografici
Enti autori:	Semiconductor Test Symposium (1974 : Cherry Hill, New Jersey), Institute of Electrical and Electronics Engineering. Computer Society, Institute of Electrical and Electronics Engineering. Philadelphia Section
Natura:	Atti del Convegno
Lingua:	inglese
Pubblicazione:	[New York : IEEE, c1974].
Soggetti:	Semiconductors > Testing. Semiconductor storage devices. Flash memories (Computers).
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Matheson Library

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Collocazione:	621.38152 S471
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