Tests, measurements, and characterization of electro-optic devices and systems : proceedings /
Salvato in:
| Altri autori: | , |
|---|---|
| Natura: | Libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Bellingham, Washington :
SPIE,
1989.
|
| Serie: | SPIE proceedings series ; vol. 1180
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Matheson Library
| Collocazione: |
623.7314 T345
|
|---|---|
|
Copia
On Shelf
|
|