Загрузка...
Characterization of thin films and solid surfaces using proton-induced X-ray emission /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Неизвестно |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
[Washington] :
U.S. Dept. of the Interior, Bureau of Mines,
1980.
|
| Серии: | Report of investigations (United States. Bureau of Mines) ;
8455. |
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Ваш комментарий будет первым!