Đang tải…
Characterization of thin films and solid surfaces using proton-induced X-ray emission /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tác giả của công ty: | |
| Tác giả khác: | |
| Định dạng: | Không biết |
| Ngôn ngữ: | Tiếng Anh |
| Được phát hành: |
[Washington] :
U.S. Dept. of the Interior, Bureau of Mines,
1980.
|
| Loạt: | Report of investigations (United States. Bureau of Mines) ;
8455. |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|