Ładuje się…
Characterization of thin films and solid surfaces using proton-induced X-ray emission /
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Korporacja: | |
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Nieznany |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
[Washington] :
U.S. Dept. of the Interior, Bureau of Mines,
1980.
|
| Seria: | Report of investigations (United States. Bureau of Mines) ;
8455. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Opis fizyczny: | 22 p. : ill. |
|---|