載入...
Characterization of thin films and solid surfaces using proton-induced X-ray emission /
Saved in:
主要作者: | |
---|---|
企業作者: | |
其他作者: | |
格式: | 未知 |
語言: | 英语 |
出版: |
[Washington] :
U.S. Dept. of the Interior, Bureau of Mines,
1980.
|
叢編: | Report of investigations (United States. Bureau of Mines) ;
8455. |
主題: | |
標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
實物描述: | 22 p. : ill. |
---|