New horizons in testing latent trait test theory and computerized adaptive testing

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteurs: United States, Computerized Adaptive Testing Conference (1979 : Wayzata, Minn)
Andere auteurs: Weiss, David J., Bock, R. Darrell
Formaat: Boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: New York Academic Press 1983
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Omschrijving
Beschrijving item:Derived from the 1979 Computerized Adaptive Testing Conference held at Wayzata, Minn., sponsored by the U.S. Office of Naval Research, et al
Fysieke beschrijving:xvii, 345 p. ill 24 cm.