Digital systems testing and testable design /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Abramovici, Miron
מחברים אחרים: Breuer, Melvin A., Friedman, Arthur D.
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: New York, NY : Computer Science Press, c1990.
סדרה:Electrical engineering communications and signal processing series.
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!