Standalone Tensile Testing of Thin Film Materials for MEMS/NEMS Applications

None

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Tajik, Arash, Jahed, Hamid
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: IntechOpen 2012
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://www.intechopen.com/chapters/33603
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!