X-Ray Spectroscopy Tools for the Characterization of Nanoparticles
None
Tallennettuna:
| Päätekijät: | Hussain, Murid, Saracco, Guido, Russo, Nunzio |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Elektroninen Kirjan osa |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
IntechOpen
2012
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | https://www.intechopen.com/chapters/27335 |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia
-
Application of Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) to the Characterization of RTILs for Electrochemical Applications
Tekijä: Benavente, J., et al.
Julkaistu: (2011) -
Application of Wavelength Dispersive X-Ray Spectroscopy in X-Ray Trace Element Analytical Techniques
Tekijä: Kavčič, Matjaž
Julkaistu: (2012) -
Time Resolved Spectroscopy with Femtosecond X-Ray Pulses
Tekijä: Seres, Enikoe, et al.
Julkaistu: (2011) -
High Resolution X-Ray Spectroscopy with Compound Semiconductor Detectors and Digital Pulse Processing Systems
Tekijä: Abbene, Leonardo, et al.
Julkaistu: (2012) -
Chemical Quantification of Mo-S, W-Si and Ti-V by Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy
Tekijä: Angeles-Chavez, Carlos, et al.
Julkaistu: (2012)


