Defect Engineering During Czochralski Crystal Growth and Silicon Wafer Manufacturing

None

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Válek, Lukáš, Šik, Jan
פורמט: אלקטרוני Book Chapter
שפה:אנגלית
יצא לאור: IntechOpen 2012
נושאים:
גישה מקוונת:https://www.intechopen.com/chapters/26201
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!