Loading…

Thin-film and depth-profile analysis

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: Etzkorn, H. W., Oechsner, H (Hans), 1934-
Format: Book
Language:English
Published: Berlin New York Springer-Verlag 1984
Series:Topics in current physics 37
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
001 00586722
003 PWmBRO
005 20240602100800.0
008 861022s1984 wb a o0010 eng l
082 0 0 |a 530.4  |b 1  |z 19 
090 0 0 |b 530.41/T443 
245 0 0 |a Thin-film and depth-profile analysis  |c edited by H. Oechsner  |f with contributions by H.W. Etzkorn ... [et al.] 
260 0 0 |a Berlin  |a New York  |b Springer-Verlag  |c 1984 
300 0 0 |a xi, 205 p. 
440 0 0 |a Topics in current physics  |v 37 
595 0 0 |a 3540133208 
650 0 0 |a Thin films  |x Surfaces 
650 0 0 |a Surface chemistry 
650 0 0 |a Sputtering (Physics) 
700 1 0 |a Etzkorn, H. W. 
700 1 0 |a Oechsner, H  |q (Hans),  |d 1934- 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 530_410000000000000_T443  |7 0  |8 MN  |9 43584  |a ML015  |b ML015  |c MN  |d 2024-06-02  |l 0  |o 530.41 T443  |p 044449  |r 2018-03-24 00:00:00  |w 2018-03-24  |y BK 
994 |a 001044449 86301 0001  
995 0 0 |a NUNE 
999 |c 31433  |d 31433