Skip to content
VuFind
Feedback
ילקוט:
0
פריטים
(מלא)
כניסה לחשבון
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
中文(繁體)
עברית
Gaeilge
Ελληνικά
Euskara
Русский
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
বাংলা
Tiếng Việt
हिंदी
Māori
Home
About Us
Mission
Vision
Values
Meet the Team
Team Hierarchy
Hours & Locations
Contact Us
Collections
Services
Online Resources
e-Books
e-Journals
Online Databases
Open Access Journals
Know More
Library Policies
Library Membership
Library Newsletter
Question Banks
Quick Links
American Corner
Library Events Calander
Contact Us
כל השדות
מחבר
כותר
כותרת כתב-העת
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Quantitative x-ray spectrometr...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
הוספה למועדפים
הוספה לילקוט
הסרה מילקוט
Permanent link
טוען...
Quantitative x-ray spectrometry
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:
Jenkins, Ron, 1932-
מחברים אחרים:
Gould, Robert William
,
Gedcke, Dale, 1939-
פורמט:
ספר
שפה:
אנגלית
יצא לאור:
New York
M. Dekker
c1981
נושאים:
X-ray spectroscopy
Spectrometry, X-Ray emission
תגים:
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
מלאי ספרים
תיאור
הערות
פריטים דומים
תצוגת צוות
כניסה לחשבון למידע על הזמנה והחזרת פריטים
פריטים דומים
Practical X-ray spectrometry
מאת: Jenkins, Ron, 1932-
יצא לאור: (1970)
Gamma- and x-ray spectrometry with semiconductor detectors /
מאת: Debertin, Klaus
יצא לאור: (1988)
X-ray spectroscopy : an introduction /
מאת: Agarwal, B. K. (Bipin Kumar), 1931-
יצא לאור: (1991)
X-ray diffraction
יצא לאור: (1974)
Elements of x-ray crystallography /
מאת: Wilson, A. J. C.
יצא לאור: (1970)