Loading…

Electron beam x-ray microanalysis

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Heinrich, Kurt F. J.
Format: Book
Language:English
Published: New York Van Nostrand Reinhold Co. c1981
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
001 00368830
003 PWmBRO
005 20240602095658.0
008 830912s1981 nyuaf a o0011 eng l
082 0 0 |a 543  |b .0812 
090 0 0 |b 543.0812/H469e 
100 1 0 |a Heinrich, Kurt F. J. 
245 1 0 |a Electron beam x-ray microanalysis  |c Kurt F. J. Heinrich 
260 0 0 |a New York  |b Van Nostrand Reinhold Co.  |c c1981 
300 0 0 |a xxiii, 578 p., [4] leaves of plates  |b ill.  |c 24 cm. 
595 0 0 |a 0442232861 
650 0 0 |a Electron probe microanalysis 
650 0 0 |a X-ray spectroscopy 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 543_081200000000000_H469E  |7 0  |8 MN  |9 18094  |a ML015  |b ML015  |c MN  |d 2024-06-02  |l 0  |o 543.0812 H469e  |p 015525  |r 2018-03-23 00:00:00  |w 2018-03-23  |y BK 
994 |a 001015525 84046 0001  
995 0 0 |a NUNE 
999 |c 12747  |d 12747