Digital systems testing and testable design /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Abramovici, Miron
Kolejni autorzy: Breuer, Melvin A., Friedman, Arthur D.
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: New York, NY : Computer Science Press, c1990.
Seria:Electrical engineering communications and signal processing series.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!